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功率半导体测试仪IGBT静态测试设备

人气:97 发布时间:2024-12-03 09:36

关键词:功率器件测试仪 IGBT测试设备 功率器件测试设备

产品型号:PMST-8000V

应用领域:电磁辐射

产品价格:1000

想了解更多产品详情,请

普赛斯功率半导体测试仪IGBT静态测试设备,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量不同封装类型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半导体等)的静态参数,具有高电压和大电流特性、μΩ级J确测量、纳安级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。

普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统配置有多种测量单元模块,模块化的设计测试方法   灵活,方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。详询18140663476

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测试系统组成

普赛斯PMST功率器件静态参数测试系统,主要包括测试主机、测试线、测试夹具、电脑、上位机软件,以及相关通讯、测试配件等构成。整套系统采用普赛斯自主开发的测试主机,内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件,可根据测试项目需要,设置不同的电压、电流等参数,以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出,并可生成I-V以及C-V特性曲线。此外,测试主机可与探针台搭配使用,实现晶圆级芯片测试;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。

测试主机内部采用的电压、电流测量单元,均采用多量程设计,测试精度为0.1%。其中,栅极-发射极,最大支持30V@10A脉冲电流输出与测试,可测试低至皮安级漏电流;集电极-发射极,最大支持6000A高速脉冲电流,典型上升时间为15μs,且具备电压高速同步采样功能;最高支持3500V电压输出,且自带漏电流测量功能。电容特性测试,包括输入电容,输出电容,以及反向传输电容测试,频率最高支持1MHz。

 



系统特点

高电压:支持高达3.5KV高电压测试(Z大扩展至10kV);

大电流:支持高达6KA大电流测试(多模块并联);

高精度:支持uΩ级导通电阻、纳安级漏电流测试;

丰富模板:内置丰富的测试模板,方便用户快速配置测试参数;

配置导出:支持一键导出参数配置及一键启动测试功能;

数据预览及导出:支持图形界面以及表格展示测试结果,亦可一键导出;

模块化设计:内部采用模块化结构设计,可自由配置,方便维护;

可拓展:支持拓展温控功能,方便监控系统运行温度;

可定制开发:可根据用户测试场景定制化开发;

 

 



系统参数

 

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测试项目

集电极-发射极电压Vces,集电极-发射极击穿电压V(br)ces、集电极-发射极饱和电压Vcesat

集电极截止电流Ices、栅极漏电流Iges

栅极-发射极电压Vges、栅极-发射极阈值电压Vge(th)

输入电容、输出电容、反向传输电容

续流二极管压降Vf

I-V特性曲线扫描,C-V特性曲线扫描等

 

 

IGBT测试设备+igbt测试仪测试夹具

针对市面上不同封装类型的硅基功率半导体,IGBT、SiC、MOS、GaN等产品,普赛斯提供

整套测试夹具解决方案,可用于T0单管,半桥模组等产品的测试。

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目前,武汉普赛斯仪表有限公司的产品已经覆盖了10pA-6000A、300mV-10KV的电压电流范围,并在多个领域展现出绝对优势。特别是在聚焦SiC/IGBT/GaN第三代半导体的电源及测试需求方面,我司在3500V、1000A以上量程及测试性能均处于绝对优势地位。此外,在大功率激光器测试、PD、APD、SPAD、SIPM晶圆测试及老化电源市场,普赛斯仪表的产品也能够满足绝大多数应用场景的需求。功率半导体测试仪IGBT静态测试设备就找普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六;

 

 


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